In the scope of “Pētījums par silīcija kristālu audzēšanas tehnoloģiskā procesa matemātiskā modeļa izveidi izmantojot attēlu apstrādes metodes” project, methods of segmentation for more precise determination of crystal meniscus location and diameter and methods for defining electron beam trajectories have been devised together with “Elektronikas un datorzinātņu institūts”.
